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熔融制样-能量色散X射线荧光光谱仪分析硅酸盐(3)

来源:硅酸盐学报 【在线投稿】 栏目:期刊导读 时间:2020-10-17
作者:网站采编
关键词:
摘要:JI Ang,LI Guo-hui,ZHANG and development of high energy polarized energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometry[J].Rock and Mineral Analysis,2008,27(6):451-462. [2] 杨明太,唐慧.能量色散X射线

JI Ang,LI Guo-hui,ZHANG and development of high energy polarized energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometry[J].Rock and Mineral Analysis,2008,27(6):451-462.

[2] 杨明太,唐慧.能量色散X射线荧光光谱仪现状及其发展趋势[J].核电子学与探测技术,2011,31(12):1307-1311.

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[10] 吉昂,卓尚君,李国会.能量色散X射线荧光光谱[M].北京:科学出版社,2011:120.

近年来,随着半导体探测器和计算机及其软件的快速发展,能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)得到了迅速的推广和应用[1-2]。ED-XRF具备多元素同时分析[3-5]、同时显示光谱图、体积小、价格便宜(同波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)比较)、功耗小的特点,在现场和驻地地质样品和矿物样品分析中具有独特的优点[6-8]。詹秀春[9]利用偏振激发-能量色散X射线荧光光谱法快速定量分析了地质样品中34种元素,在总测量时间为600s(每个样品)的条件下,得到的各元素检出限达到0.5~30μg/g。EDXRF一般采用直接粉末法[6-8]或压片法[9]制样,而采用熔融制样,用台式能量色散X射线荧光光谱仪分析硅酸盐样品中多种元素文献鲜见报道。为此作者采用Li2B4O7-LiBO2(质量比67∶33)作混合熔剂,加入LiNO3为氧化剂,LiBr为脱膜剂,熔融制作玻璃熔片,用能量色散X射线荧光光谱仪对硅酸盐类岩石、水系沉积物、土壤等样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、Cl、K2O、CaO、TiO2、V、Cr、MnO、Fe2O3、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、As、Ba、La、Ce、Th、U、Hf、Pb等32种组分进行分析,分析结果的精密度和正确度与化学法完全一致。1 实验部分1.1 仪器配置Epsilon4型能量色散X射线荧光光谱仪(荷兰帕纳科公司),Rh靶铍窗(50μm)侧窗X射线管,最大功率10W,最高激发电压50kV,2000μA(Max);高分辨硅漂移探测器(分辨率135eV);氦冲洗系统(软件控制);10位自动进样器 光谱仪结构和测量条件实验用能量色散X射线荧光光谱仪结构示意图见图1。从图1能量色散X射线荧光光谱仪的结构示意图可知:由X射线管产生的初级X射线激发样品,由样品产生的X射线进入半导体探测器进行光电转换,即把光信号转换成电脉冲,经放大器放大进入多道脉冲幅度分析器,然后取出计数,并显示光谱图,进行定量和定性分析。图1 能量色散X射线光谱仪结构示意图Fig.1 Schematic diagram of energy dispersiveX-ray spectrometer各元素分组最佳测量条件主要涉及管电压、管电流、滤光片和测量时间。管电压和滤光片由仪器程序推荐,一般不用改变。管电流的选取基于在最大功率限制条件下,取各元素具有最高含量的标准样品,采用手动控制调节电流,使每组测量条件下测量的死时间控制在30%~40%。经程序优化后,各被分析元素测量条件见表 标准样品的选择和制备选用岩石标样GBW07103~GBW07108,水系沉积物标样GBW07308、GBW07312、GBW07364,土壤标样GBW07401、GBW07405、GBW07407、GBW07449~GBW07451共15个标样。标样中各组分既有足够宽的含量范围,又有适当的含量梯度。硅酸盐样品中各组分的含量范围见表2。表1 分析元素的测量条件Table 1 Measuring conditions of analyzed element分组Group分析元素谱线Analyticalline管电压Tubevoltage/kV管电流Tubecurrent/μA测量时间Measuringtime/s管过滤片Tubefilter1组(F~Si)NaKα,MgKα,AlKα,SiKαNone2组(Cl~V)CaKα,KKα,TiKα,PKα,SKα,ClKα,VKα组(Cr~Co)CrKα,MnKα,FeKα,CoKαAl-504组(Ni~Nb)NiKα,CuKα,ZnKα,GaKαAsKα,BrKα,RbKα,SrKαYKα,ZrKα,NbKα,BaLαLaLα,CeLα,ThLα,ULα5Al-200Cu-300Cu-300Cu-300注:第1组光路为氦气外,其余组都为空气;BiLα、BrKα为干扰元素 样品制备称取在650℃灼烧过的(10.)g Li2B4O7-LiBO2混合熔剂(m∶m=67∶33)和在105℃烘干过的(1.)g样品于铂黄合金坩埚(95% Pt-5% Au)内,滴加2滴饱和LiNO3溶液,1滴500g/L LiBr溶液,将铂金坩埚转移至熔样机中进行自动熔融 谱线重叠干扰和基体效应校正标准样品测量后,打开标准样品图标,选择某个标准样品,打开其图谱。图谱上显示该分析元素的分析谱峰和存在的元素干扰峰。利用仪器软件可扣除谱线重叠干扰元素。使用熔融玻璃片制样虽然消除了粒度、矿物效应和减少了基体效应,但由于校准样品中组分的含量变化很大,仍需进行基体效应校正并扣除谱线重叠干扰。仪器配备的1.0.B软件所用的综合数学校正公式为:表2 校准样品中各组分的含量范围Table 2 Content range of each componentsin calibration samples组分Component含量范围Contentrange组分Component含量范围~~~~~~~~~~~6.75Rb16~466Cl24~6300Sr24~~5.01Y1.9~~~~~685V24~245Pb7.0~552Cr3.6~410La21~~0.23Ce25~~~54Ba120~1140U0.4~18Co3.4~97Hf1.8~28注:Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3的含量单位为%,其余组分单位为mg/kg。(1)式中:Ci为校准样品中分析元素i的含量(在未知样品分析中,为基体校正后分析元素i的含量);Di为元素i的校准曲线截距;Lim为干扰元素m对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数;Zm为干扰元素m的含量或计数率;Ei为分析元素i校准曲线的斜率;Ri为分析元素i计数率(或与内标线的强度比值);Zj为共存元素的含量;N为共存元素的数目;αij为校正基体效应的因子;i为分析元素;j为共存元素。2 结果与讨论2.1 解谱和校准曲线为了获取待测元素的特征X射线荧光光谱的峰面积或谱峰高的净强度,需要对测得的谱图进行处理。谱图处理的结果直接影响定性和定量分析结果的质量。谱峰的处理方法有3种。第1种是设置感兴趣区,并对感兴趣区内图谱进行积分。当待测元素含量很低而又相邻于含量较高元素一侧时,设置感兴趣区,通常能获得较理想的结果[10]。它的设置很简单,通常取特征谱半高宽的两侧内的谱,即在低能区设起始道(能量),在高能一侧设置终止道(能量),然后对该能量区间的计数或计数率进行加和。第2种是运用纯元素标准谱最小二乘法拟合。第3种是应用高斯或经改进的高斯函数的最小二乘法拟合。根据上述解谱原则,以Al为例,首先使用高斯函数最小二乘法对Al图谱进行拟合,但计算的校准曲线点较分散,改用感兴趣区法进行解谱。在其他条件完全相同的条件下, 用感兴趣区法进行解谱,Al2O3校准曲线的线性相关系数为0.,而使用高斯函数最小二乘法解谱,Al2O3校准曲线的线性相关系数为0.,见图2、图3。其原因可能是因硅酸盐样品中Al和Si元素相邻,且Si含量高,Si对Al谱线重叠所致。根据解谱后校准曲线的线性,实验确定Na、Mg、Al、Si、P、As、Ce、Cr、Cu、Ga、La、Nb、Ni、Pb、Th、U、V、Y选择感兴趣区解谱,其余元素用高斯或经改进的高斯函数的最小二乘法拟合解谱。图2 使用高斯最小二乘法拟合解谱Al2O3的校准曲线Fig.2 Calibration curve of Al2O3deconvolutioned with Gaussian 检出限检出限(LD)和样品的基体有关,不同的样品因其成分和含量不同,分析元素的灵敏度、散射的背景强度、谱线重叠干扰程度也会发生变化,因而采用不同样品计算出的检出限也不同。为此使用基体成分有差别的土壤标样GBW07401和GBW07407,用检出限计算公式(式2)计算理论检出限,同时将这两个土壤标样每个重复测量10次,计算各组分测定结果的标准偏差(SD),并以3倍标准偏差作为检出限。采用这两种方法计算出的检出限见表3。(2)式中:S为灵敏度,cps/(μg/g);Rb为背景计数率;tb为活时间。由表3可见,用3倍标准偏差计算所得检出限,除个别组分外,均大于用检出限公式计算的检出限。也就是说,用理论公式计算出的检出限普遍偏低。因此建议选用有代表性的多个硅酸盐类样品,用该程序的测量条件对每个标样重复测定10次,取其标准偏差的3倍作为检出限,再取它们的平均值,则更具代表性和使用意义。图3 使用感兴趣区解谱Al2O3的校准曲线Fig.3 Calibration curve of Al2O3deconvolutioned with the region of interest (ROI)表3 理论检出限和计算检出限的比较Table 3 Comparison of the theoryLDand the calculatedLDmg/kg组分ComponentGBW07401GBW07407LD3SDLD3SD组分2.3 方法的精密度取土壤样品GBW07405按照实验方法熔融制备6个玻璃片,用编制好的测量程序进行分析,统计结果示于表4。表4结果表明,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD)为0.12%~10.5%(Na2O 的RSD为29.4%,可能是因为小能谱功率低,且Na轻元素荧光产额低,含量低,因此Na的精密度差) 方法的正确度利用汇编好的定量校准程序,测量未参加回归的土壤标准样品GBW07362和GBW07385,结果见表5。表5结果表明,测定值与标准值符合。表4 土壤样品的精密度试验结果Table 4 Precision test results of soil samples组分Component标准值*Standard平均值*AverageRSD/%组分Component标准值*Standard平均值*AverageRSD/%注:*Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3的含量单位为%,其余组分的单位为mg/kg。表5 硅酸盐样品的分析结果对照Table 5 Comparison results of silicate samples组分ComponentGBW07385GBW07362标准值Standard测定值Found标准值Standard测定值Found组分ComponentGBW07385GBW07362标准值Standard测定值Found标准值Standard测定值注:Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、SO3、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3的含量单位为%,其余组分单位为mg/kg。3 结语用混合熔剂熔融玻璃片制样,建立了使用台式能量色散X射线荧光光谱仪测定硅酸盐样品中的32种主、次、痕量组分的方法。其分析方法的灵敏度和正确度与化学湿法及波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)符合。每个样品的测量时间为25min。充分发挥10W小型能谱实验室设备的分析功能,其中主次量元素达到大型波长色散X射线荧光光谱分析能力。由于采用熔融制样,低含量及痕量元素的灵敏度低,在相同的测量时间下,较大型WDXRF分析能力稍差,低含量Na的分析结果误差较大,对低含量重元素分析误差较大。本法可用于岩石、水系沉积物和土壤样品中多元素分析。参考文献:[1] 吉昂,李国会,张华.高能偏振能量色散 X射线荧光光谱仪应用现状和进展[J].岩矿测试,2008,27(6): Ang,LI Guo-hui,ZHANG and development of high energy polarized energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometry[J].Rock and Mineral Analysis,2008,27(6):451-462.[2] 杨明太,唐慧.能量色散X射线荧光光谱仪现状及其发展趋势[J].核电子学与探测技术,2011,31(12): Ming-tai,TANG Hui.The 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文章来源:《硅酸盐学报》 网址: http://www.gsyxbzz.cn/qikandaodu/2020/1017/349.html



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